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[单选题]

I型超晶格是指?()

A.窄带材料的导带底和价带顶均位于宽带材料的禁带中,这种结构的电子势阱和空穴势阱都位于窄带材料中

B.一种材料的导带底和价带顶均分别低于另一种材料的导带底和价带顶,电子势阱和空穴势阱分别位于两种材料中,电子与空穴在空间上是分离的

C.一种材料的导带底与另一种材料的价带顶有一部分重叠,电子势阱和空穴势阱不在同一种材料中

D.窄带材料的导带底和价带顶均位于宽带材料的禁带中,电子势阱和空穴势阱不在同一种材料中

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更多“I型超晶格是指?()”相关的问题

第1题

以下关于“本征半导体”与“杂质半导体”的描述正确的是()。
A、纯净无杂质、结构理想无缺陷的半导体是本征半导体

B、实际的半导体材料总是存在杂质和缺陷的,只要杂质和缺陷在一定限度内,就可看作是本征半导体

C、本征半导体掺入杂质可形成杂质半导体

D、本征半导体掺入施主杂质可形成n型半导体,掺入受主杂质可形成p型半导体

E、n型半导体依靠导带电子导电

F、p型半导体依靠价带空穴导电

G、本征半导体中载流子由本征激发产生

H、本征半导体中导带电子浓度等于价带空穴浓度

I、施主杂质电离可以为半导体提供导电电子

J、受主杂质电离可以为半导体提供导电空穴

K、杂质半导体中载流子主要靠杂质电离产生

L、杂质半导体中也存在本征激发的过程

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第2题

硅的晶格结构是(),按能带结构划分属于()。

A.金刚石型,直接带隙半导体

B.闪锌矿型,直接带隙半导体

C.金刚石型,间接带隙半导体

D.闪锌矿型,间接带隙半导体

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第3题

以下关于杂质的描述正确的是()。
A、半导体中的杂质会局部的破坏晶格的周期性势场,引起载流子的散射

B、电离的杂质会引起载流子的散射,从而影响载流子的迁移率

C、中性杂质不会对半导体产生影响

D、如果半导体中同时掺入施主杂质和受主杂质,由于所有的杂质都会破坏晶格周期性势场,所以对载流子迁移率的影响是两种杂质浓度之和

E、如果半导体中同时掺入施主杂质和受主杂质,由于杂质的补偿作用,对载流子浓度的影响是两种杂质浓度之差

F、如果半导体中同时掺入施主杂质和受主杂质,而且施主杂质浓度等于受主杂质浓度,由于杂质的补偿作用,该半导体材料属于本征半导体

G、杂质会在半导体的禁带中引入能级

H、如果杂质能级较浅,则杂质易于电离,可为半导体提供导电的载流子或改变半导体的导电类型,如掺入硅中的磷

I、如果杂质能级较深,则杂质不易于电离,可能形成复合中心或陷阱中心

J、如果杂质能级(深能级)的位置在EF附近,该杂质可有效促进载流子的复合,缩短非平衡载流子的寿命,起复合中心的作用,如掺入硅中的金

K、如果杂质能级(深能级)的位置在Ei附近,该杂质可暂时收容非平衡载流子,延长了非平衡载流子的寿命,起陷阱中心的作用

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第4题

以下不属于经典的MI超急性损伤期心电图特征的是()

A.ST段上斜型抬高

B.ST-T电交替

C.此期出现梗死型Q波之后

D.缺血区导联上T波高耸

E.QRS时限延长至0.12s

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第5题

下列哪项不是左后分支阻滞的诊断标准()

A.额面电轴在90度到180度

B.I导联和aVL导联呈rS型

C.III导联和aVF导联呈qR型

D.QRS波≤110ms

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第6题

关于“光注入”,以下说法错误的是:()。

A.只要用光照射半导体材料,就可以产生非平衡载流子

B.入射光子能量必须大于等于半导体的禁带宽度

C.非平衡电子和空穴成对产生

D.受到入射能量的激发,价带电子跃迁到导带,产生非平衡载流子

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第7题

导水裂缝带是指开采煤层上方一定范围内的岩层发生垮落和断裂,产生裂缝,且具有导水性的岩层范围,正确吗()

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第8题

转K6型转向架侧架导框两侧磨耗之和大于()或组装间隙超限时,堆焊后加工。

A.2mm

B.3mm

C.4mm

D.5mm

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第9题

门诊护士/导医工作制度正确的是?()

A.掌握健康宣教知识,可自行决定对患者进行相关宣教

B.为患者做好咨询解释、检査指导、辅助科室方位介绍等工作,不用过度保护患者隐私,必要时陪特殊患者做检查

C.掌握分诊、诊室助理、

D.超室、审材料、病历录入等门诊护士/导医工作内容,合理安排患者,落实军人优先制度

E.工作时间可根据情况谈论与工作无关的话题

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第10题

转K6型转向架侧架导框两侧摩擦面单侧磨耗(含局部磨耗)深度大于()或组装间隙超限时,堆焊后加工。

A.0.5mm

B.1.5mm

C.2mm

D.3.5mm

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